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以下の機器を用いた分析が可能です。お気軽にご相談ください。

FE-EPMA(X線マイクロアナライザ)
固体、粉体試料の極小部観察、元素定性分析及び分布測定(数万倍まで可能)など
XRF(蛍光X線分析装置)
含有成分(元素)の定量を行います
XRD(X線回析分析装置)
物質化合状態(結晶形)を同定します
SEM-EDS(走査型電子顕微鏡)
固体、粉体試料の極小部観察、元素の定性分析および分布測定など (スタンダードレス半定量分析)




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